| Signatur | FA 005/3349 |
|---|---|
| Gegenstand | Prospekt (2) |
| Titel | Modular-Meßsystem MMS 40 für Mehrfachobjekte. Produktinformation 94/04/01d |
| Enthält | u.a. englische Ausgabe: Modular Measurement System MMS 40 for Multiple-Sample Analysis Product Information 94/04/01e |
| Bemerkung | Steinheil Industrielle Messtechnik GmbH ist seit 1993 die Tochtergesellschaft von Steinheil Optronik GmbH |
| Laufzeit | 01.04.1994 |
| Umfang | 2 Bl. gedr. |
| Fachgebiet | Optik. Optische Instrumente <315.07> |
| Formalangaben | Sprachen: Englisch , Deutsch |
| Rechtehinweis | CC BY-SA 4.0 |
| Permalink | https://digital-dev.deutsches-museum.de/item/FA-005-3349 |
| Datensatz im XML-Format |
Zum Austausch und Weiterverarbeitung der Daten nutzen wir maschinenlesbare, standardisierte XML-Formate wie LIDO (Sammlung), METS/MODS (Bibliothek) und EAD (Archiv). Hier können Sie die XML-Datei des ausgewählten Datensatzes herunterladen. Wenn Sie Fragen haben, kontaktieren Sie uns gerne per E-Mail an digital@deutsches-museum.de. XML des Datensatzes herunterladen |
|---|---|
| Bilder | Einzelbilder können in der Toolbar des Viewers heruntergeladen werden. Für einen vollständigen Download aller Bilder eines Datensatzes kontaktieren Sie uns gerne per E-Mail an digital@deutsches-museum.de. |
