Direkt zum Seiteninhalt springen

Wirtschaftlichkeitsvergleich zwischen Stichprobenkontrolle bei End- bzw. Abnahmekontrolle und Optis…

Signature mark FA 005/3355
Subject Prospekt (2)
Title Wirtschaftlichkeitsvergleich zwischen Stichprobenkontrolle bei End- bzw. Abnahmekontrolle und Optischem Wellensystem. Produktinformation 94/02/01d
Contains u.a. A Profitability Comparison between Sampling or End-Acceptance Testing and the OpticalShaft Measuring System. Product Information 94/02/01e
Note Steinheil Industrielle Messtechnik GmbH ist seit 1993 die Tochtergesellschaft von Steinheil Optronik GmbH
Duration 01.02.1994
Scope 2 Bl. gedr.
Subject area Optik. Optische Instrumente <315.07>
Formal information Languages: Englisch , Deutsch
Rights notice CC BY-SA 4.0
Permalink https://digital-dev.deutsches-museum.de/item/FA-005-3355
XML of the record We use machine readable, standardized XML formats like LIDO (Collection), METS/MODS (Library) and EAD (Archive) to provide our data. You can download the XML file of the selected record here. If you have any questions contact us by email to digital@deutsches-museum.de.

Download the XML of the record
Images Individual images can be downloaded from the viewer's toolbar. To get a full download of all images from a record contact us by email to digital@deutsches-museum.de.
If you have any questions, suggestions, or comments, please use the form to get in touch with us or send an e-mail to: digital@deutsches-museum.de.
no-image-available.jpg