Direkt zum Seiteninhalt springen

Wirtschaftlichkeitsvergleich zwischen Stichprobenkontrolle bei End- bzw. Abnahmekontrolle und Optis…

Signatur FA 005/3355
Gegenstand Prospekt (2)
Titel Wirtschaftlichkeitsvergleich zwischen Stichprobenkontrolle bei End- bzw. Abnahmekontrolle und Optischem Wellensystem. Produktinformation 94/02/01d
Enthält u.a. A Profitability Comparison between Sampling or End-Acceptance Testing and the OpticalShaft Measuring System. Product Information 94/02/01e
Bemerkung Steinheil Industrielle Messtechnik GmbH ist seit 1993 die Tochtergesellschaft von Steinheil Optronik GmbH
Laufzeit 01.02.1994
Umfang 2 Bl. gedr.
Fachgebiet Optik. Optische Instrumente <315.07>
Formalangaben Sprachen: Englisch , Deutsch
Rechtehinweis CC BY-SA 4.0
Wenn Sie Fragen, Anregungen oder Kommentare haben, benutzen Sie bitte das Formular, um mit uns in Kontakt zu treten. Oder senden Sie eine E-Mail an: digital@deutsches-museum.de.
https://digital-dev.deutsches-museum.de/item/FA-005-3355/
Link kopieren in die Zwischenablage
no-image-available.jpg