| Signatur | FA 005/3355 |
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| Gegenstand | Prospekt (2) |
| Titel | Wirtschaftlichkeitsvergleich zwischen Stichprobenkontrolle bei End- bzw. Abnahmekontrolle und Optischem Wellensystem. Produktinformation 94/02/01d |
| Enthält | u.a. A Profitability Comparison between Sampling or End-Acceptance Testing and the OpticalShaft Measuring System. Product Information 94/02/01e |
| Bemerkung | Steinheil Industrielle Messtechnik GmbH ist seit 1993 die Tochtergesellschaft von Steinheil Optronik GmbH |
| Laufzeit | 01.02.1994 |
| Umfang | 2 Bl. gedr. |
| Fachgebiet | Optik. Optische Instrumente <315.07> |
| Formalangaben | Sprachen: Englisch , Deutsch |
| Rechtehinweis | CC BY-SA 4.0 |
| Permalink | https://digital-dev.deutsches-museum.de/item/FA-005-3355 |
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